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半导体粉末电阻率测试仪/粉末电阻率测试仪
产品型号：TC-FZ-2006
产品编号：TC-008184
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半导体粉末电阻率测试仪/粉末电阻率测试仪 型号：TC-FZ-2006
一、产品用途：
本产品参照有关国际标准设计。适用于半导体粉末和固体的电阻率测量，直接数字显示电阻或电阻率值，稳定可靠，价格低廉。配置粉末测试台或四探针测试台可以对粉末、片状、块状材料及固态金属测试，测量范围：电阻率为10-2--105Ω·cm，分辩率为0.1mΩ·cm。
仪器主主要包括电气箱和测试架两部分组成，电气测试部分由高精度直流数字电压表和直流恒定电流源组成。测试架为压力传感和加压机构、粉末标准容器，压力机构采用手动操作、压力平稳。仪器有自校功能。仪器采用国际通用的电流、电压降法，即四端子测量法，两介电流和电压电同时和样品接触，可以消除连接系统所带来的误差。克服二端测量粉末电阻率仪器的弊病，真实准确测量粉末样品的电阻率，测量精度高，稳定性、重复性好。使用方便。
本仪器是检验和分析半导体固态和粉态样品质量的重要工具，适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂等企业以及高等院校和科研部门。
二、主要技术指标
1．测量范围：电阻10-2--105Ω，分辨率0.1mΩ。
电阻率10-2--105Ω·cm,分辨率0.1mΩ·cm。
测量误差±(0.3%读数+2字)。
2．测量电压量程：20mV、200mV、2V，分辨率10μV。
测量误差±(0.3%读数+2字)。
3．测量电流：0--100mA连读可调。
电流量程：10μA、100μA，1mA 、10mA、100mA。
4．试样粒度：标准筛网40目以下直至纳米材料。
5．试样容器：内腔Φ16.30±0.1mm，Φ10±0.1mm。可选用
6．试样高度：16mm±0.5mm, 10mm±0.5mm测量误差±0.1mm
7. 取样压力::4Μpa±0.05Μpa(40kg/cm2±0.5kg/cm2)
8. 显示方式: 3 1/2 数量字显示电阻、电阻率、压力、单位、小数点。自动显示。
9． 电源：220V±10%，50--60HZ，功率消耗<150W
10．外形：电气箱，440mm×110mm×320mm
