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单晶少子寿命测试仪 少子寿命测试仪
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单晶少子寿命测试仪 少子寿命测试仪
产品型号：LT-2
产品编号：TC-007189
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产品介绍
技术文档
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如何购买
单晶少子寿命测试仪 少子寿命测试仪 型号： LT-2
| LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高，配备有红外光源，可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。 | ||||||||||||||||||||||||
| 本仪器根据国际通用方法高频光电导衰退法的原理设计，由稳压电源、高频源、检波放大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五部份组成。采用印刷电路和高频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。 | ||||||||||||||||||||||||
| 技 术 指 标 ： | ||||||||||||||||||||||||
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