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数显式硅酸根分析仪/硅酸根分析仪/数显式硅酸根检测仪
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数显式硅酸根分析仪/硅酸根分析仪/数显式硅酸根检测仪
产品型号：GXF-215
产品编号：TC-004014
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产品介绍
技术文档
相关产品
如何购买
数显式硅酸根分析仪/硅酸根分析仪/数显式硅酸根检测仪 型号： GXF-215
GXF-215型数显式硅酸根分析仪是火力发电厂、核发电厂、石油、化工等行业对其化学除盐水、锅炉给水、蒸汽、凝结水中硅酸根（SiO2）含量测定以及纯水制备过程中水质监测的必备仪表。测定方法依据GB12150-89“锅炉用水和冷却水分析方法——硅的测定 硅钼蓝光度法”。
本系列仪器具有不工作时的待机功能，对光源采取了有效的保护，可以连续的运行在现场环境。检测元件的恒温环境使得仪器的稳定性更具佳的保证。
技术参数：
测量范围：0~50.0μg/LsiO2
基本误差：≤±2.0μg/L
重复性误差：≤±0.2μg/L
短期漂移（30分钟）：≤±0.2μg/L
长期漂移(24小时）：≤±2.0μg/L
化学方法：硅钼兰光度法GB 12150—89
GXF-215型数显式硅酸根分析仪是火力发电厂、核发电厂、石油、化工等行业对其化学除盐水、锅炉给水、蒸汽、凝结水中硅酸根（SiO2）含量测定以及纯水制备过程中水质监测的必备仪表。测定方法依据GB12150-89“锅炉用水和冷却水分析方法——硅的测定 硅钼蓝光度法”。
本系列仪器具有不工作时的待机功能，对光源采取了有效的保护，可以连续的运行在现场环境。检测元件的恒温环境使得仪器的稳定性更具佳的保证。
技术参数：
测量范围：0~50.0μg/LsiO2
基本误差：≤±2.0μg/L
重复性误差：≤±0.2μg/L
短期漂移（30分钟）：≤±0.2μg/L
长期漂移(24小时）：≤±2.0μg/L
化学方法：硅钼兰光度法GB 12150—89
