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光耦参数测试仪
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光耦参数测试仪
产品型号：JFY3092B
产品编号：TC-023599
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产品介绍
技术文档
相关产品
如何购买
光耦参数测试仪 型号：JFY3092B
JFY3092B光耦参数测试仪技术指标
5.1.1 耐压(BVCEO BVECO)
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
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0-1000V |
0.1V |
<1%+2RD |
0-2mA |
5.1.2输入正向压降(VF)
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
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0-10V |
1mV |
<1%+2RD |
0-400MA |
5.1.3输出端反向漏电流(ICEO)
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
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0-2000uA |
1nA |
<5% +5RD |
0-1000V（+/-1%） |
5.1.4反向漏电流(IR)
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
|
0-2000uA |
10nA |
<5% +5RD |
VR=0-10V（+/-1%） |
5.1.5电流传输比(CTR)
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
|
0-9999 |
1% |
1% +5RD |
BVCE：0-10V
IF:0-400MA （+/-1%） |
5.1.6输出导通压降(VCE(sat))
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测试范围 |
分辨率 |
精度 |
测试条件 |
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0-10.000V |
1mV |
1% +5RD |
IC：0-400mA
IF:0-400mA （+/-1%） |
5.1.7：可同时测通道数：1通道，2通道 4通道
5.1.8:可分档位总数：16
5.1.9可连接机械手测试。
