放射性污染测量仪 核辐射污染检测仪
产品型号:mu-I
产品编号:TC-012395
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放射性污染测量仪 核辐射污染检测仪 型号:mu-I
适用性
mu-I放射性表面污染测量仪采用半导体探测器,适用于低水平α、β辐射表面污染检测和环境X、γ辐射监测。具有良好的探测效率、较高的可靠性和方便的操作特性。精巧的设计使同一探头能同时区分测量α、β粒子,并可即时用于环境X、γ辐射剂量水平测量。该仪器采用单片机控制,可连续进行测量数据的记录存储,并由计算机通讯获取。该设备可用于环境放射性监测、核医学、核电站、核燃料生产、运输、储存和商检等诸多领域。仪器控制功能还有:本底测量定时选择、污染测量定时选择、报警阈值设置、数据通讯选择、声音控制、背光控制、模拟条码显示、电池欠压指示等。
▉主要技术指标
探测器●半导体探测器
探头灵敏窗面积●Ia型3.14cm2和Ib型19.6cm2可选;
探头端口边缘至灵敏窗Z小距离●4.5mm;
探头窗铝膜质量厚度●<1.1mg/ cm2;
仪器效率●ηα≥24%(239Pu,距窗表面4.5mm );ηβ≥30%
仪器本底●Ia型:α<0.5cpm; β≤20 cpm;
●Ib型: α<3cpm; β≤100 cpm;
计数量程●α、β计数率0.1~99999cpm;
X、γ辐射测量范围●0.01μSv/h~100mSv/h,相对误差:≤±15%;
报警设置●α:1~200cpm,β:20~2000cpm,步长1,连续可调;
电 源●内置可充电锂电池,一次充电可持续工作时间≥7天;
工作环境特性●温度-20℃~50℃,相对湿度RH≤90%(@30℃);
尺寸/重 量<●主机:190×93×48;探头:Φ33×150;总重:730g。