涂层测厚仪 镀层测厚仪 膜厚仪型号：CT-800
一、 概述
CT-800型膜厚仪(涂层测厚仪，镀层测厚仪)是一种小型便携式仪器，用于测量有色金属基体上的非导电涂层的厚度，如铜、铝、锌等基体上的油漆、塑 料、橡胶等涂层，或者是铝基体上的阳氧化膜厚度等。该仪器采用涡电流测量原理，符合国际标准ISO2360和国家标准GB4957。
该仪器设计时曾参照国外的同类仪器，与国外仪器性能相同，功能相似。
采用红宝石耐磨触点的恒压导套式探头，可在各种坚硬、粗糙表面上得到稳定的输出。
该仪器具备以下几种重要功能：
1、校准数据关机保留功能：即开机时不必重新校准，关机后，校准数据仍可保留。
2、数据统计功能：可输出5种统计参数。
3、节电功能：停止测试3分种，仪器自动关机。
4、电池欠压指示功能：电池电压过低自动关机。
5、蜂鸣音提示功能：蜂鸣音提示有效测量、故障及误操作。
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二.技术参数
1.测量范围：0－200μm;
2.测量精度：±3%±0.5μm F·S
3.分辨率：1μm
4.使用温度：0－40℃
5.显示器：三位半LCD显示器
6.电源：9V层迭电池一节，型号6F 22
7.功率：50mW
8.外型尺寸：80×150×35mm
9.重量：40g
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仪器的成套性
主机（带探头） 一台
校准用基体 一块
校准用标准片 一套
使用说明书 一本
手提仪器包 一件
1.按下ON/OFF键。接通仪器电源。仪器开始运行自检程序。显示器中所有字符同时出现并闪动一次，然后发出一蜂鸣声，显示出0。表示仪器运行正常，已进入测量状态。对于已校准过或近期已校准过的仪器，此时可进行测量操作。对于长期没有校准过的仪器，可用标准片检查一下仪器的精度，或者重新进行校准。
2.测量方法如下：将探头平稳、垂直地落到清洁、干燥、平整的待测试样上，仪器的鸣叫一声，同时显示出涂层厚度值。表明一次测量完成。抬起探头，重新落下，便可进行下一次测量。这样反复5－10次，就可完成一组测量。
3.按下RES键5次，可依次得到一组统计数据：
MEAN－平均值
MAX－Z大值
MIN－Z小值
N－测量次数
S－标准偏差
以上英文符将依次出现在显示器的右测。
在统计值显示期间，可随时进行下一组测量，新的测量将清除前一组测量的统计结果。
4.在测量过程中，如因探头放置不稳，显示出一个明显错误的结果，可按下DEL键，删除该值，以免影响测量统计结果的准确性。
5.测量完毕，按ON/OFF键，关闭电源。为节电起见。该仪器设有自动关机功能，停止操作3分钟，仪器自动关机。
6.该仪器有电池欠压指示功能。当电池电压不足时，会显示出“LOBAT”字符。此时，应在30分钟内结束测量，更换电池。仪器背面，设有电池仓，打开仓盖，更换电池即可。
五.校准操作
该仪器不必每次使用前都做校准。但是，当基体材料改变时及试样形状改变时，都要进行一次校准。校准时要使用没有涂层的基试块和已知精确厚度值的标准片，基体和标准生要求表面清洁、平整。
1、校准有以下三种方法：
（1）探头远离基体（>15mm），按下CAL键，显示器出现提示“ZERO”、显示值“0.0”。
（2）在基体上测量5－10次，显示零点测量结果的平均值。
（3）连续按下两次CAL键，仪器接受新的零点，退出校准状态，显示“0”，进入测量状态。
2、多点校准（用基体和标准片校准）
（1）将探头远离基体，按CAL键，提示“ZERO”，显示“0.0”。
（2）在基体上测量5－10次，显示零点测量结果的平昀值。
（3）按CAL键，仪器自动校准零点。提示“STD1”，显示“0.0”。
（4）取第一标准片，放在基体上，测量5－10次，显示该标准片测量结果的平均值。
（5）按△或▽键，使显示值与标准片厚度值相等。
（6）按CAL键，仪器存入该校准值后，提示“STD2”显示“0.0”
（7）重复（4）－（6）的操作，校准其它两个标准片。尔后，仪器退出校准状态，显示“0”，进入测量状态。
3、特性校准（用已知厚度的参考试样和标准片校准）
（1）探头远离参考试样，按下CAL键，提示“ZERO”，显示“0.0”。
（2）按下CAL键，提示“STD1”，显示“0.0”。
（3）在参考试样上测量5－10次，显示该试测量结果的平均值。
（4）按△或▽键，使显示值与参考试样厚度值相同。
（5）按CAL键，仪器存入该校准值后，提示“STD2”，显示“0.0”。
（6）取第一标准片，放在参考试样上，测量5－10次，显示测量结果一平均值。
（7）按△或▽键，使显示值等于参考试样厚度值与标准片厚度值之和。
（8）按CAL键，仪器存入该校准值后，提示“STD3”显示“0.0”。
（9）取第二标准片，放在参考试样上，测量5－10次，显示出测量结果的平均值。
（10）按△或▽健，使显示值等于参考试样厚度值与第二标准片厚值之和。
（11）按CAL键，校准结束，显示“0.0”仪器进入测量状态。
注：
1.该仪器不必每次使用都进行校准。只是当发现仪器测量误差比校大时，便可进行校准，根据情况可分别使用上述的三种方法校准仪器。
2.校准片的选择应使待测件的膜厚值被标准片的厚度值所包含。各步校准所用标准片厚度必须按从小到大顺序选取。
3.在校准过程中，可用DEL键删除该次测量值。也可使用DEL键，依次删除前几次的测量量，直至回到本步骤的初始状态。
4.在多点校准和特性校准时，连续按下两次CAL键，可提前结束校准，回到测量状态。
5.为尽量提高测量精度，在下述情况下应采用外形和材质与待测件相同的基体材料重新校准仪器。
（1）试样表面粗糙。
（2）试样曲率半径<200mm。
（3）试样被测面直径200mm。
（4）基本材料厚度<1mm。
（5）基体材料的合金成分发生了变化。
六.蜂鸣音的撤消与恢复
仪器每次开机后，都自动带有蜂鸣音功能。即每次测量时都鸣叫一声，可用以下方法撤消和恢复蜂鸣音。同时按下DEL和▽键，直至出现0.0。表示撤消了蜂鸣音，再按下DEL和▽，直至出现F，表示恢复了蜂鸣音。
七、日常维护
1.仪器使用完毕后，应放入包中保存，避免冲击和污损。
2.探头应保持清洁，被测物上的污物和尘土在测量前应除掉、避免测量误差和污损探头。
3.仪器长时间不用时，应取出电池，以免电池漏液污损仪器。
4.仪器如发生故障，请立即与本所联系修理，不要擅自开机，否则责任自负。
八、故障排除
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现 象 |
原 因 |
排除方法 |
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无显示或仪器突然关机 |
1.开关没打开。
2.自关关机。
3.电池耗尽。
4.电池连接不好。 |
1.按住ON/OFF直到有显示后松手。
2.重新开机。
3.更换电池检查电池扣及连接线。 |
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测量时无响应 |
1.基体不导电。
2.涂层太厚。
3.探头导线接触不良。
4. 探头损坏。
5. 基体是铁磁性的。 |
1. 检查被测件。
2. 检查被测件。
3. 检查探头导线。
4. 更换探头。
5. 检查被测件。 |
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测量结果明显出错 |
1.基体材料与上次校准所用基体材料不同。
2. 探头特性受试样曲率面积等影响。
3. 校准时出错。
4. 测量作不协调。 |
1.用新基体材料重新校准仪器。
2.在相同形状基体一重新校准仪器
3.重新校准。
4. 按DEL键。 |
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开机后只显示所有字符，且不能关机。 |
单片机电路故障。 |
与生产厂联系修理。 |
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显示E |
测量时过快地抬起探头 |
重新测量。 |
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显示E1，且不能测量 |
探头开路或电路故障。 |
与生产厂联系修理。 |
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显示E2，且不能测量 |
更换了新探头。 |
与生产厂联系 |
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显示E3 |
要求重新校准 |
重新样准。 |
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偶然出现不能关机 |
程序运行出错 |
取出电池重新安装。 |
九、紧急情况处理——复位操作功能
该功能主要用于处理仪器“死机”、测量数据紊乱、或不能进行正常测量等特殊情况。这种情况的发生是由于微机存储器中的数据丢失而造成的。复位操作，即是恢复储器中的数据。
操作方法：在关机状态下，同时按下△键和ＯＮ/ＯＦＦ键，也可先按住△键，再同时按下ＯＮ/OFF键，当显示器中出现“———”时，松手即可。稍等处片刻，显示器中出现“Ｅr3“。要求进行重新校准。此时，按下ＣＡＬ键，显示器中出现0.0，在基体上测量5－10次。这时显示器中的数值可能会比较大，这是正常的，然后再按下两次ＣＡＬ键，仪器即可恢复正常操作。
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