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数显薄膜测厚仪 薄膜测厚仪
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数显薄膜测厚仪 薄膜测厚仪
产品型号： CH-12.7-STSX
产品编号：TC-004095
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产品介绍
技术文档
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如何购买
数显薄膜测厚仪 薄膜测厚仪 型号： CH-12.7-STSX
分度值：0.001mm
测量范围及准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（Z大测量深度为80mm）
GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
分度值：0.001mm
测量范围及准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（Z大测量深度为80mm）
GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
